microprocessor-based prober
- microprocessor-based prober
- mikroprocesorinis zondinis matuoklis
statusas T sritis radioelektronika
atitikmenys: angl. microprocessor-based prober
vok. mikroprozessorgesteuerte Meßsondenanlage, f
rus. зондовая измерительная установка с микропроцессорным управлением, f
pranc. sondeur de mesure commandé par microprocesseur, m
Radioelektronikos terminų žodynas. – Vilnius : BĮ UAB „Litimo“.
Kazimieras Gaivenis, Gytis Juška, Vidas Kalesinskas.
2000.
Look at other dictionaries:
mikroprocesorinis zondinis matuoklis — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. microprocessor based prober vok. mikroprozessorgesteuerte Meßsondenanlage, f rus. зондовая измерительная установка с микропроцессорным управлением, f pranc. sondeur de mesure commandé par… … Radioelektronikos terminų žodynas
mikroprozessorgesteuerte Meßsondenanlage — mikroprocesorinis zondinis matuoklis statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. microprocessor based prober vok. mikroprozessorgesteuerte Meßsondenanlage, f rus. зондовая измерительная установка с микропроцессорным управлением, f pranc … Radioelektronikos terminų žodynas
sondeur de mesure commandé par microprocesseur — mikroprocesorinis zondinis matuoklis statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. microprocessor based prober vok. mikroprozessorgesteuerte Meßsondenanlage, f rus. зондовая измерительная установка с микропроцессорным управлением, f pranc … Radioelektronikos terminų žodynas
зондовая измерительная установка с микропроцессорным управлением — mikroprocesorinis zondinis matuoklis statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. microprocessor based prober vok. mikroprozessorgesteuerte Meßsondenanlage, f rus. зондовая измерительная установка с микропроцессорным управлением, f pranc … Radioelektronikos terminų žodynas
Focal plane array testing — (under development sep 15)Focal Plane Array testing (FPA testing) is the test engineering process of validation and verification (V V) of operation of focal plane array imaging devices, device under test (DUT), at various levels of the… … Wikipedia